简介:咨询半导体光电器件检验服务,上百检网。我们会为您安排半导体光电器件检验工程师对接,沟通半导体光电器件检验项目、标准、周期等,待方案确认后,即可开始样品检测,出具半导体光电器件检验报告真实有效,常规周期在3-15个工作日,特殊项目需在方案制定时详细确认,欢迎咨询。
发布时间:2023-12-08
咨询热线: 400-101-7153
手机联系: 185-0176-3637
咨询半导体光电器件检验服务,上百检网。我们会为您安排半导体光电器件检验工程师对接,沟通半导体光电器件检验项目、标准、周期等,待方案确认后,即可开始样品检测,出具半导体光电器件检验报告真实有效,常规周期在3-15个工作日,特殊项目需在方案制定时详细确认,欢迎咨询。
检测周期:常规样品、项目3-15个工作日,可加急。特殊样品、项目除外,如功效类检测等。
寄样方式:快递或上门检测
检测费用:依据项目、标准决定。
服务对象:企业、公司、单位、个体商户、高校,非维权纠纷类检测
低温存储试验,冷热冲击试验,微米级长度测量,温度偏置寿命试验,温度偏置寿命试验(脉冲),温度循环偏置试验,温度循环试验,温湿度偏压寿命试验,温湿度存储试验,高温存储试验
1. 样品提供:客户提供待检测样品,并拟定检测方案;
2. 样品接收:实验室收到样品后进行核查并录入样品信息;
3. 样品处理:将样品进行必要的前处理,确保检测结果的准确性;
4. 检测分析:利用适当的物理、化学或生物学方法对样品进行检测,保证检测的覆盖率和准确度;
5. 结果报告:按照检测方案,百检网将检测结果用简要、准确的方式告知客户并提供详细的检测报告。
1、JESD22-A103E (October 2015) 高温存储试验
2、JESD22-A105C; Method A, B (Jan 2004) 温度循环偏置试验
3、IEC 60068-2-1 (Edition 6.0 2007-03) 环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
4、JESD22-A106B.01 (Nov 2016) 冷热冲击试验
5、JESD22-A104E(Oct 2014) 温度循环试验
6、JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015) 低温存储试验 JESD22-A119A; Condition A (Oct 2015)
7、JESD22-A101D (July 2015) 温湿度偏压寿命试验
8、JESD22-A108F (Jul 2017) 温度、偏置和寿命试验
9、IEC 60068-2-67 (Edition 1.0 1995-12) 环境试验 第2-67部分:试验方法 试验Cy:稳态湿热加速试验(主要用于部件)
10、GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则
11、JESD 22-A101D 温湿度存储试验 JESD22-A101D (July 2015)
12、IEC60069-2-2 第5版 2007-07 环境试验方法 2-2部分 试验B:高温
13、IEC 60068-2-14; Test N (Edition 6.0 2009-01) 冷热冲击试验
1、 入驻天猫、京东等电商平台。
2、 进入大型超市或卖场。
3、 招投标。
4、 工程验收。
5、 宣传用报告。
6、 供应商要求。
关于半导体光电器件检验检测内容就介绍到这里。后续会安排对应工程师对接,百检第三方检测机构欢迎您的咨询,期待与您合作。
与”半导体光电器件测试报告“相关产品
与”半导体光电器件测试报告“相关阅读